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しきさいのプロダクトは、画素毎に品質を示す情報（QAフラグ）を格納しています。QAフラグはデータ欠損や雲の有無、海陸等を示す情報で、用途に応じてそれらをマスクして画素を抽出できます。
また、物理量データ中にもマスク値が設定されています。具体的には、L2及びL3プロダクトでは統計情報によるマスク、L1B・LTOAQ・LTOAK・LTOAF・LCLRFのプロダクトでは、物理量データの上位ビットに迷光フラグが付加されております。
プロダクトによりフラグの定義は異なります。 詳しくはJAXA/EORC HPのデータカタログ中のアトリビュート情報や、SGLI高次プロダクトフォーマット説明書をご覧ください。 QAフラグの適用は、しきさいプロダクト利用の手引き(入門編)の「QA flagの適用」や以下の資料をご覧ください。

L3統計プロダクトSSTについては[1日統計]と[8日統計、1か月統計]でQAフラグが異なりますのでご留意ください。下記資料も併せてご覧ください。

また、SGLIのL1プロダクトには衛星やセンサーの状態を示す、擾乱フラグ（他配列に格納、「Q. 擾乱フラグとは何か」をご覧ください）等の情報が格納されています。これらのフラグは画素毎に割り当てられていないことに留意してください。詳しくはSGLIレベル1プロダクトフォーマット説明書をご覧ください。

2024/10/28 更新